鍵盤光學(xué)檢測設(shè)備（KOI）是一款新型的檢測速度快、精度高的表面缺陷視覺檢測設(shè)備，目前主要應(yīng)用于鍵盤表面各種缺陷的快速檢測，缺陷類型主要包含印刷質(zhì)量缺陷、顆粒、劃痕、缺鍵、錯(cuò)鍵等等，可以有效的替代大量的人工檢測，節(jié)省人工成本，提高生產(chǎn)效率，提高缺陷產(chǎn)品的檢出率。同時(shí)利用這個(gè)平臺(tái)的高精度的視覺檢測和運(yùn)動(dòng)伺服系統(tǒng)，可以非常快速的適應(yīng)其他產(chǎn)品的表面缺陷的檢測，比如PCB、LCD等等。
應(yīng)用領(lǐng)域：筆記本鍵帽檢測、平面零件表面缺陷檢測
設(shè)備優(yōu)勢
l 鍵盤表面缺陷全方位檢測：印刷質(zhì)量、劃痕、顆粒、尺寸等
l 處理速度快
l 檢測精度高
l 高分辨率線陣相機(jī)系統(tǒng)：一次性掃描，高分辨率、大視場范圍
l 高精密伺服運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)：研磨級(jí)絲桿、導(dǎo)軌、重復(fù)精度高、系統(tǒng)穩(wěn)定性好
l 檢測對(duì)象換型方便
l 缺陷類型統(tǒng)計(jì)和分析，實(shí)時(shí)給出改善措施和建議